可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。
可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。
可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。
CI P900MRK作为CI P900系列延伸机台,其核心技术是高端半导体离子注入机核心配套部件技术升级。
可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。
低能大束流迭代CI C60XP,主要是基于本公司大束流离子注入CI C60的平台,在硬件上优化光路上的核心模块,在软件上开发更友好更安全的操作系统,从而实现低能量、大剂量的条件下,更均匀、更安全、更高效的离子注入掺杂工艺需求。
PRODUCTS & SOLUTIONS
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基于本公司大束流离子注入平台,设计优化并完成技术改进;光路对标国际领先大束流机台Trident 光路设计,更好的束流传输效率;能量沾污 (<0.05%);采用新型离子源优化设计方案,源端寿命可超过600小时;新软件适配提高操作优化和可拓展性;
优势:
主要特点:高温靶盘 (最大温度可达 300℃)
植入时温度均匀性可控制 +/- 5℃
靶盘采用静电吸附模式,去除接触式加热带来应力变化与划伤风险
晶圆传输速度适配高温晶圆传输,保证晶圆传输安全
预加热模式,降低温度快速升温膨胀划伤,非接触式加热降低颗粒度风险
颗粒度控制<20adder@0.037um
主要技术设计指标:
参数名称 | 技术要求 |
离子能量(Energy) | 200 eV-60 keV(单电荷) |
晶片尺寸(Wafer Size) | 12 inch(离子能量(Energy):300mm) |
| 剂量注入范围(Dose Range) | 2E13-5E16 ions/c㎡ |
| 产品应用(Applications) | LOGIC, DRAM, 3D NAND, NOR, CMOS, MOSFET, IGBT, BCD, CIS, MEMS |
如需了解更多技术细节或获取产品报价,请联系我们的技术支持团队。
marketing@zkxsemicon.com