核心产品
CI P900

中束流离子注入机CI P900

可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。

CI P900

中束流离子注入机CI A900XP

可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。

CI P900

中束流高温离子注入机CI P900 HT

可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。

CI P900

中束流MRK离子注入机 CI P900MRK

CI P900MRK作为CI P900系列延伸机台,其核心技术是高端半导体离子注入机核心配套部件技术升级。

CI P900

中束流碳化硅离子注入机CI P900SiC

可用于中低剂量掺杂和精确角度与剂量控制的工艺步骤,如阈值电压调整注入,沟道阻隔注入,晕注入、袋注入等工艺,整机完全适应大生产制造,具备自优化及自适应控制功能。

CI P900

新一代低能大束流离子注入机CI C60XP

低能大束流迭代CI C60XP,主要是基于本公司大束流离子注入CI C60的平台,在硬件上优化光路上的核心模块,在软件上开发更友好更安全的操作系统,从而实现低能量、大剂量的条件下,更均匀、更安全、更高效的离子注入掺杂工艺需求。

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离子注入机
中束流注入机
高能注入机
SiC注入机

半自动多用途离子注入机CI-S0380MS(0250MS)



主要用途:用于SiC电力电子器件制造,Si基器件制造及其他特种应用。通过向晶圆选择性注入掺杂元素如Al、B、N、P、H、As、Cu、Ag、Au、Er、Te等,形成p-n结或调控器件性能参数等。Main application: Focus on the manufacture of SiC power electronics devices and Si-based devices. By selectively implanting doped elements such as AI, B, N, P, H, As, Cu, Ag, Au, Er, Te, p-n junctions are formed and device performance parameters can be adjusted.

主要特点:Main Characteristics

1. 静电+机械扫描平行束注入;Electrostatic plus mechanical scan, and parallel beam implanting;

2. 采用手动装卸片,引束及注入自动运行,整机成本降低,适用于小批量生产或实验用途;Manually load and unload wafer, auto beam-tune and implant, the cost is reduced, suitable for small amount manufacture or lab use;

3. 靶室晶片装载支持定制化设计,4靶位,兼容4、6、8英寸,可同时支持高、低温配置、非标准晶片的装载;4 target platens that can provide customization of wafer chuck, compatible with 4 inch, 6inch and 8 inch wafer, allow high-temp and room-temp target platens at the same time, suitable for customised size wafer implant.

4. 可配置专用坩埚Al离子源,维护周期大于350小时,可用于SiC功率器件的Al离子注入工艺;With a selective specified crucible Al ion source, which makes PM intervals greater than 350h, it can be used in Al ion implant jobs for SiC power electronics devices;

5. 可配置专用离子源,适用于重金属离子等特种离子注入需求;With a selective specific ion source, it can be used in special ion implanting such as heavy metal;

6. 可配置高温加热靶,最高加热温度超过600℃;Selective high-temperature target platen, the max temperature is over 600℃;

主要技术指标Main Parameters:

离子能量(Energy) 

20-380keV(单电荷Sinlge Charge) 

晶片尺寸(Wafer Size)

4 inch,6 inch,其他特殊尺寸(other special size)

剂量注入范围(Dose Range)

2E11 - 1E16 ions/cm2

产品应用(Applications)

Si基器件、SiC器件及其他特种应用  Manufacture of Si-based devices, SiC devices and other special applications